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JIREH 078 Tester a Raggi X per Metalli Preziosi, Strumento di Rilevamento Purezza e Analisi di Finezza, Spettrometro 3'60'' Spettrale

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1.042,20 €
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Intervallo di lunghezza donda

T

Caratteristiche principali

Tipo

Spettrometro a raggi X

Larghezza di Banda spettrale

altro

Risoluzione della lunghezza d'onda

3'60''

Luogo di origine

Hebei, China

Rigidità della lunghezza d'onda

±0.2nm

Nome del brand

JIREH

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Caratteristiche principali

Tipo
Spettrometro a raggi X
Larghezza di Banda spettrale
altro
Risoluzione della lunghezza d'onda
3'60''
Luogo di origine
Hebei, China
Rigidità della lunghezza d'onda
±0.2nm
Nome del brand
JIREH
Supporto personalizzato
OEM, ODM, OBM
Garanzia
Altro
Peso
32.5kg
Codice modello
078

Imballaggio e consegna

Unità vendute
Singolo articolo
Dimensione confezione singola
43.6X46.8X41 cm

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